CP200臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器│₪◕◕，可以對微米和奈米結構進行膜厚和薄膜高度↟₪◕、表面形貌↟₪◕、表面波紋和表面粗糙度等的測量│╃。臺階儀對測量工件的表面反光特性↟₪◕、材料種類↟₪◕、材料硬度都沒有特別要求│₪◕◕，樣品適應面廣│₪◕◕，資料復現性高↟₪◕、測量穩定↟₪◕、便捷↟₪◕、高效│₪◕◕，是微觀表面測量中使用非常廣泛的微納樣品測量手段│╃。